Modul
Charaktersierung und Modellierung elektronischer Bauelemente

Prof. Dr.-Ing. M. Schröter
Institut für Grundlagen der Elektrotechnik und Elektronik

Zielgruppe:

Studenten des IST-Diplomstudiengangs (ab Imma-Jahrgang WS 2010)

Inhalte des Moduls: (2/2/2)
Das Modul umfasst:

• aktuelle Forschungsthemen und Trends auf dem Gebiet der Charakterisierung und Modellierung mikro- und nanoelektronischer Bauelemente

Qualifikationsziele:

Nach Abschluss des Moduls sind die Studierenden in der Lage,

• eigenverantwortlich praxis- und forschungsbezogener Aufgaben auf dem Gebiet der Charakterisierung und Modellierung mikro- und nanoelektronischer Bauelemente zu lösen (einschließlich Konzeption, Dokumentation und Diskussion) und
• Messergebnisse zu analysieren und Interpretieren
• Sie können sich schnell und selbständig anhand von Forschungsliteratur in neue Themen einarbeiten.

Beginn/Ort der LV: Donnerstag, 11.04. 2013, 5.DS, BAR/218/U

Datum	Themen
11.04.2013	Organisation, overview of topics
18.04.2013	MOS transistor modeling
25.04.2013	Carbon Nano Tubes and FETs
16.05.2013	SiGe HBT compact modeling
30.05.2013	Electrothermal modeling
06.06.2013	Algorithmic benchmark circuit design
13.06.2013	Statistical modeling
20.06.2013	Parameter extraction basics
27.06.2013	Parameter extraction HICUM
04.07.2013	On-Wafer S-parameter measurements
11.07.2013	Noise in SiGe and AIIIBV bipolar transistors
18.07.2013	Large-signal, Distortion and measurements

Skript: