CIW> ES2generate Button> please choose a generator type -> ram Form> please specify a block name -> ram256x8 Button> OKDraufhin müssen verschiedene Fragen in einem xterm beantwortet werden.
Form> BIST -> yes Form> Choose the functional configuration -> 1 Form> Number of words -> 256 Form> Bits per word -> 8 Form> Please choose from above -> 2 Form> Hit return to continue -> CREs entsteht eine neue Bibliothek MegaCell, die den RAM enthält, und eine Bibliothek BistLib, die eine Schaltung beinhaltet, die RAM und BIST umfaßt. BIST bedeutet `Built-In Self Test' und dient dazu, den RAM auf dem Chip auf defekte Speicherzellen zu testen. Ein BIST oder eine entsprechende Alternative wird in der Praxis unbedingt benötigt (die Generierung von Tests ist aus Aufwandsgründen allerdings nicht Bestandteil des Praktikums.) Der BIST erklärt auch die entsprechenden, zunächst überflüssig erscheinenden Signale bistmode und bistout im functional des FIFO. Stimmen die Ports verschiedener Views einer Schaltung nicht überein, so meldet sich der sog. Cross-View Checker.
Im Verzeichnis `generate' findet man das Datenblatt des
generierten RAMs, ram256x8.ds.